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【2h】

Hierarchical Identification of Untestable Faults in Sequential Circuits

机译：顺序电路中不可测试故障的分层识别

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Jaan Raik; Raimund Ubar; Anna Krivenko; Margus Kruus;
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年度 2008
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3. Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits Using Test Path Constraints [J] . Taavi Viilukas, Anton Karputkin, Jaan Raik, Journal of Electronic Testing . 2012,第4期

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4. Hierarchical Identification of Untestable Faults in Sequential Circuits [C] . Raik, Jaan, Ubar, . 2007

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5. High level test methodology for crosstalk faults in sequential circuits [D] . Phadoongsidhi, Marong 2004

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