首页> 外文OA文献 >Testability of Sequential Circuits with Multi-Cycle False Paths

【2h】

Testability of Sequential Circuits with Multi-Cycle False Paths

机译：具有多周期伪路径的时序电路的可测试性

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Priyank Kalla And; Priyank Kalla; Maciej Ciesielski; Prof Maciej Ciesielski;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 1997
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Multi-Cycle Path Detection for Sequential Circuits and Its Application to Real Designs [J] . Hiroyuki HIGUCHI IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences . 2003,第12期

机译：时序电路的多循环路径检测及其在实际设计中的应用
2. Multi-cycle path analysis for large sequential circuits [J] . Hiroyuki Higuchi 電子情報通信学会技術研究報告. コンピュ-タシステム. Computer Systems . 2001,第473期

机译：大型时序电路的多周期路径分析
3. Multi-cycle path analysis for large sequential circuits [J] . Hiroyuki Higuchi 電子情報通信学会技術研究報告. コンピュ-タシステム. Computer Systems . 2001,第473期

机译：大连续电路的多循环路径分析
4. Testability of sequential circuits with multi-cycle false paths [C] . Kalla, P., Ciesielski, . 1997

机译：具有多周期错误路径的时序电路的可测试性
5. Satisfiability based sequential test generation and design for testability for mixed register-transfer/gate-level circuits. [D] . Lingappan, Loganathan. 2006

机译：基于可满足性的顺序测试生成和混合寄存器传输/门级电路可测试性的设计。
6. A Sequential Path Model Testing: Emotional Intelligence Resilient Coping and Self-Esteem as Predictors of Depressive Symptoms during Unemployment [O] . María Angeles Peláez-Fernández, Lourdes Rey, Natalio Extremera 2021

机译：顺序路径模型测试：情绪智力弹性应对与自尊作为失业期间抑郁症状的预测因子
7. An Implication-based Method to Detect Multi-Cycle Paths in Large Sequential Circuits [O] . Hiroyuki Higuchi 2002

机译：一种基于蕴涵的检测大型时序电路多周期路径的方法
8. Efficiency of Compact Testing for Sequential Circuits. [R] . Losq, J. 1976

机译：顺序电路紧凑测试的效率。

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号