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【2h】

Testability Analysis and Multi-frequency ATPG for Analog Circuits and Systems

机译：模拟电路和系统的可测性分析和多频ATPG

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Sam D. Huynh; Seongwon Kim; Mani Soma; Jinyan Zhang;
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年度 2008
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1. A New ATPG Technique (ExpoTan) for Testing Analog Circuits [J] . Varaprasad B. K. S. V. L., Patnaik L. M., Jamadagni H. S., IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2007,第期

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2. A new ATPG technique (MultiDetect) for testing of analog macros in mixed-signal circuits [J] . Varaprasad B.K.S.V.L., Patnaik L.M., Jamadagni H.S., IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2004,第2期

机译：一种新的ATPG技术（MultiDetect），用于测试混合信号电路中的模拟宏
3. Simulation-based ATPG for low power testing of crosstalk delay faults in asynchronous circuits [J] . S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari, M. Prabhu International Journal of Computer Applications in Technology . 2013,第3期

机译：基于仿真的ATPG用于异步电路中串扰延迟故障的低功耗测试
4. Testability analysis and multi-frequency ATPG for analog circuits and systems [C] . Huynh, S.D., Seongwon Kim . 1998

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5. A new ATPG algorithm to generate compact test sets which detect static and dynamic defects in VLSI circuits. [D] . Lee, Sooryong. 2003

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