Automatic Test Vector Generation for Mixed-Signal Circuits

机译：混合信号电路的自动测试矢量生成

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Bechir Ayari; Naim Benhamida; Bozena Kaminska;
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年度 1995
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1. ATPRG: an automatic test program generator using HDL-A for fault diagnosis of analog/mixed-signal integrated circuits [J] . Wei-Hsing Huang, Chin-Long Wey IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 1998,第2期

机译：ATPRG：使用HDL-A的自动测试程序生成器，用于诊断模拟/混合信号集成电路
2. Test Generation for Analog and Mixed-Signal Circuits Using Hybrid System Models [J] . Tarik NAHHAL, Thao Dang International Journal of VLSI Design & Communication Systems . 2011,第3期

机译：使用混合系统模型生成模拟和混合信号电路的测试
3. Compact test generation for full scan sequential circuits using multiple frame vectors [J] . Dong Ho Lee, Hyun Chul Noh Electronics Letters . 1999,第3期

机译：使用多个帧向量的全扫描时序电路的紧凑测试生成
4. Automatic test vector generation for mixed-signal circuits [C] . Ayari B., Ben Hamida N., Kaminska B. . 1995

机译：混合信号电路的自动测试矢量生成
5. Failure analysis and generation of worst-case test vectors for CMOS circuits exposed to nuclear ionizing radiation. [D] . Abou-Auf, Ahmed A. 1993

机译：暴露于核电离辐射的CMOS电路的故障分析和最坏情况的测试矢量生成。
6. Successful detection of a high-energy electrical short circuit and a rescue shock using a novel automatic shocking-vector adjustment algorithm [O] . Masahiro Mizobuchi, Yoshihisa Enjoji 2015

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7. Automatic test signal generation for mixed-signal integrated circuits using circuit partitioning and interval analysis [O] . Coyette Anthony, Esen Vahap Baris, Vanhooren Ronny, 2016

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8. Effect of Distance Heuristics and Circuit Testability on the Generation of Test Vectors for Combinational Circuits [R] . Goldstein, L. H. 1977

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