机译:NH3掺杂的ALD HfTiO栅极电介质改善了多层MoS2晶体管的电性能
机译:具有Al2O3 / HFO2的栅极堆叠电介质的顶门和底门多层MOS2晶体管的比较研究
机译:HFO2封装对少数层MOS2晶体管电气性能的影响,用ALD HFO2作为背栅电介质
机译:具有ALD HfTiO栅极电介质的多层MoS2晶体管的电性能
机译:具有再生源极-漏极区和ALD介电层的最后栅极铟镓砷MOSFET。
机译:ALD沉积La2O3 / Al2O3叠层和LaAlO3介电薄膜的电学性能研究
机译:具有aLD HfTiO栅极电介质的多层mos