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【2h】

Study of test approach for IP cores applicable to SOC designs

机译:研究适用于SOC设计的IP核的测试方法

摘要

Department of Electronic and Information Engineering
机译:电子信息工程系

著录项

  • 作者

    Wong MWT; Ko KY; Lee YS;

  • 作者单位
  • 年度 2001
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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