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机译:化合物半导体中的掺杂辅助缺陷控制
Specht Petra; Weber Eicke R.; Weatherford Todd Russell;
机译:用化学计量控制化合物半导体中的缺陷结构:CdTe中的氧
机译:化学计量控制和化合物半导体中的点缺陷
机译:III-V型化合物半导体中的缺陷结构:氢化物传输汽相外延生长的InGaAs和InGaAsP外延层中缺陷结构的产生和演化
机译:关于非核算复合半导体中的内在点缺陷的结构性感知 - (PPT)
机译:复合半导体中的缺陷和缺陷簇
机译:选择性区域金属有机气相外延对位置控制的III–V化合物半导体纳米线太阳能电池
机译:在化合物半导体中的脱离化学计量和内在点缺陷之间的相互作用
机译:用于检查缺陷的方法,已经检查了使用一个或多个晶片制造的半导体器件的缺陷,缺陷检查装置以及用于控制质量的半导体器件或晶片的方法
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