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High speed temperature measurement with InAs infrared sensor for power semiconductor chips

机译：利用InAs红外传感器对功率半导体芯片进行高速温度测量

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電子デバイス/半導体電力変換合同研究会, 10月27日-28日, 2011年, くにびきメッセ, 島根県

机译：电子设备/半导体电源转换技术委员会，2011年10月27日至28日，岛根县国立展览馆

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作者
藤本宏海; 中道聡; 大村一郎;
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作者单位

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年度 2011
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原文格式 PDF
正文语种 ja
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