首页> 外文OA文献 >Effect of charge carriers on the barrier height for vacancy formation on InP(110) surfaces
【2h】

Effect of charge carriers on the barrier height for vacancy formation on InP(110) surfaces

机译:电荷载流子对InP(110)表面空位形成势垒高度的影响

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

We determine the energy barrier height for the formation of positively charged phosphorus vacancies in InP(110) surfaces using the rate of formation of vacancies measured directly from scanning tunneling microscope images. We found a barrier height in the range of 1.15-1.21 eV. The barrier height decreases with increasing carrier concentration. These results are explained by a charge separation during the vacancy formation process. (C) 2000 American Institute of Physics. [S0003-6951(00)02027-1].
机译:我们使用扫描隧道显微镜图像直接测量的空位形成速率,来确定InP(110)表面带正电的磷空位形成的能垒高度。我们发现势垒高度在1.15-1.21 eV的范围内。势垒高度随着载流子浓度的增加而降低。这些结果可以通过空位形成过程中的电荷分离来解释。 (C)2000美国物理研究所。 [S0003-6951(00)02027-1]。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号