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Control y caracterización de un dispositivo de posicionamiento X-Y con desplazamientos micrométricos para una posterior aplicación en procesos de microfabricación

机译:具有微米级位移的X-Y定位设备的控制和特性,可随后在微加工过程中应用

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著录项

  • 作者

    Guzmán Díaz Sebastián;

  • 作者单位
  • 年度 2014
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 spa
  • 中图分类

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