机译:具有金属触点的单个ZnO纳米线中随温度变化的固有载流子迁移率和载流子浓度
机译:通过固有吸杂来优化硅MOS器件中的少数载流子寿命
机译:准稳态光致发光精确测定硅中的少数载流子迁移率
机译:多维,闭式分析建模的系统方法:p型Ga / sub l-x / Al / sub x / As中的迁移率和有效固有载流子浓度
机译:X = 0.20、0.40和1.0的汞(1-X)镉(X)碲的缺省化学性质和内在载体浓度
机译:制备工艺和退火处理对硅纳米线薄膜少数载流子寿命的影响
机译:在O2气氛下使用多孔硅基吸杂剂改善低质量多晶硅中少数载流子迁移率
机译:重掺杂硅中少数载流子寿命,迁移率和扩散长度的测量