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【2h】

Tomographic imaging of all orthogonal components of the displacement field in weakly scattering materials using wavelength scanning interferometry

机译：使用波长扫描干涉仪对弱散射材料中位移场的所有正交分量进行层析成像

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机译：这是会议论文。

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作者
Ruiz Pablo D.; Chakraborty Semanti;
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年度 2013
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1. Measurement of all orthogonal components of displacement in the volume of scattering materials using wavelength scanning interferometry [J] . Semanti Chakraborty, Pablo D. Ruiz Journal of the Optical Society of America, A. Optics, image science, and vision . 2012,第9期

机译：使用波长扫描干涉仪测量散射材料体积中位移的所有正交分量
2. Tilt scanning interferometry: a novel technique for mapping structure and three-dimensional displacement fields within optically scattering media [J] . Ruiz PD, Huntley JM, Maranon A Proceedings of the Royal Society. Mathematical, physical and engineering sciences . 2006,第2072期

机译：倾斜扫描干涉术：一种用于在光散射介质中映射结构和三维位移场的新技术
3. Depth-resolved whole-field displacement measurement by wavelength-scanning electronic speckle pattern interferometry [J] . Ruiz PD, Huntley JM, Wildman RD Applied Optics . 2005,第19期

机译：波长扫描电子散斑图干涉法测量深度分辨全场位移
4. Full-sensitivity depth-resolved measurements of displacement fields inside weakly scattering materials using wavelength scanning interferometry [C] . Pablo D. Ruiz, Semanti Chakraborty International Conference on Speckle Metrology . 2012

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5. Absolute distance (thickness) metrology using wavelength scanning interferometry. [D] . Suratkar, Amit Ravindra. 2009

机译：使用波长扫描干涉仪的绝对距离（厚度）度量衡。
6. Tomographic and multimodal scattering-type scanning near-field optical microscopy with peak force tapping mode [O] . Haomin Wang, Le Wang, Devon S. Jakob, -1

机译：层析和多峰散射型扫描近场光学显微镜具有峰值力敲击模式
7. Tomographic measurement of all orthogonal components of three-dimensional displacement fields within scattering materials using wavelength scanning interferometry [O] . Chakraborty Semanti 2013

机译：使用波长扫描干涉仪对散射材料中三维位移场的所有正交分量进行层析成像测量

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