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【2h】

Determination of Optical and Physical Properties of ZrO2 Films by Spectroscopic Ellipsometry

机译：椭偏光谱法测定ZrO2薄膜的光学和物理性能

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Yusoh R.; Horprathum M.; Eiamchai P.; Chindaudom P.; Aiempanakit K.;
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年度 2012
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