首页> 外文OA文献 >X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices

【2h】

X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices

机译：基于X射线的工具，用于研究有机电子设备中的掩埋界面

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Neuhold Alfred; Brandner Hannes; Ausserlechner Simon J.; Lorbek Stefan; Neuschitzer Markus; Zojer Egbert; Teichert Christian; Resel Roland;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices [J] . Alfred Neuhold, Hannes Brandner, Simon J. Ausserlechner, Organic Electronics . 2013,第2期

机译：基于X射线的工具，用于研究有机电子设备中的掩埋界面
2. Electronic structure of the polymer-cathode interface of an organic electroluminescent device investigated using operando hard x-ray photoelectron spectroscopy [J] . J. Ikeuchi, H. Hamamatsu, T. Miyamoto, Journal of Applied Physics . 2015,第8期

机译：使用操作性X射线光电子能谱研究有机电致发光器件的聚合物-阴极界面的电子结构
3. Interface electronic structure of the organic light-emitting devices: Photoemission and x-ray absorption studies of Al/KF/Alq_3 interface [J] . J. Lee, J. S. Lim, H. J. Shin, Applied Physics Letters . 2007,第26期

机译：有机发光器件的界面电子结构：Al / KF / Alq_3界面的光发射和x射线吸收研究
4. Non-Destructive Characterization of Buried Solid-Solid Interfaces and Semiconducting Devices by Means of X-ray Emission Spectroscopy [C] . E.Z.Kurmaev, V.E.Scherbinin World conference on NDT;14th WCNDT . 1997

机译：X射线发射光谱法对埋藏的固体-固体界面和半导体器件的无损表征
5. Theoretical investigations for molecular electronic devices: Metal/semiconductor interfaces, capacitance of atomic scale wires, and organics on diamond surfaces. [D] . Odbadrakh, Khorgolkhuu. 2007

机译：分子电子设备的理论研究：金属/半导体界面，原子尺度导线的电容以及金刚石表面上的有机物。
6. Protein Assays on Organic Electronics: Rational Device and Material Designs for Organic Transistor‐Based Sensors [O] . Dr. Tsukuru Minamiki, Dr. Riku Kubota, Yui Sasaki, 2020

机译：有机电子产品上的蛋白质分析：基于有机晶体管的传感器的合理设备和材料设计
7. The depth profile of core energy levels: Electronic structure of buried organic/metal interfaces examined by X-ray photoemission and target factor analysis [O] . Yoshida Hiroyuki, Sato Naoki 2011

机译：核心能级深度图：通过X射线光发射和目标因子分析检查的有机/金属掩埋界面的电子结构

X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅