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机译:椭圆光谱法和分光光度法测定ZrO2的厚度和光学常数。
Yusoh R.; Horprathum M.; Eiamchai P.; Chanyawadee S.; Aiempanakit K.;
机译:用分光光度法和椭圆偏振光度法测定ZnTe和ZnS薄膜的光学常数和膜厚
机译:光学常数的测定,包括光学厚的纳米结构Ti膜的表面特性:通过椭圆偏振光谱分析
机译:椭圆偏振光谱法测定多晶ZnSe薄膜厚度的光学常数和拟合的透射光谱
机译:光谱椭圆形测定法测定ZrO2的厚度和光学常数和分光光度法
机译:一种可靠测定结合常数和荧光稀土元素检测的分析光谱法
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:椭偏光谱法测定ZrO2薄膜的光学和物理性能
机译:使用封闭式公式和反射椭偏法确定吸收介质中吸收膜吸收基底系统的基底光学常数和膜厚的方法和智能设备
机译:结合使用振荡装置和椭圆偏振法来确定不相关的有效厚度和沉积在工作电极上或从工作电极上蚀刻的材料的光学常数,这些材料最好包含非法向取向的纳米纤维
机译:混合使用振荡法和电泳法测定从流体中沉积的材料的不相关有效厚度和光学常数
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