机译:高质量非晶氧化硅钝化的晶体硅晶片的温度相关少数载流子寿命
机译:直接观察由电位诱导的降解和恢复测试引起的SiNx钝化的n型晶体硅衬底的有效少数载流子寿命的变化
机译:光诱导提高化学钝化晶体硅的少数载流子寿命
机译:金属表面污染对A-Si少数群体载体的影响的研究:H钝化晶体硅
机译:高纯N型硅中金属杂质对少数载流子寿命的影响。
机译:制备工艺和退火处理对硅纳米线薄膜少数载流子寿命的影响
机译:研究金属表面污染对a-si:H钝化晶体硅少数载流子寿命的影响
机译:在结晶硅太阳能电池制造过程中开发用于过程控制的在线少数载体寿命监测工具。年度分包商报告,2003年6月