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【2h】

Tuning-Fork Atomic Force Microscope Cantilever Encoder and Applications for Displacement and In-Plane Rotation Angle Measurement

机译：音叉原子力显微镜悬臂编码器及其在位移和平面内旋转角测量中的应用

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Xiaomei Chen; Ludger Koenders; Helmut Wolff; Frank Härtig;
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年度 2011
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1. Atomic force microscope cantilevers as encoders for real-time forward and backward displacement measurements [J] . Xiaomei Chen, Ludger Koenders, Helmut Wolff, Measurement Science & Technology . 2011,第9期

机译：原子力显微镜悬臂作为编码器，用于实时向前和向后位移测量
2. Atomic force microscope cantilever as an encoding sensor for real-time displacement measurement [J] . Xiaomei Chen, Ludger Koenders, Helmut Wolff, Measurement Science & Technology . 2010,第10期

机译：原子力显微镜悬臂用作实时位移测量的编码传感器
3. Accurate measurement of Atomic Force Microscope cantilever deflection excluding tip-surface contact with application to force calibration [J] . Ashley D. Slattery, Adam J. Blanch, Jamie S. Quinton Ultramicroscopy . 2013,第Null期

机译：精确测量原子力显微镜悬臂偏转，不包括尖端表面接触，可用于力校准
4. Tuning-fork atomic force microscope cantilever encoder and applications for displacement and in-plane rotation angle measurement [C] . Chen Xiaomei, Koenders Ludger, Wolff Helmut Anniversary Eurosensors Conference . 2013

机译：调谐叉原子力显微镜悬臂编码器和用于位移和面内旋转角度测量的应用
5. Three-dimensional measurement of atomic force microscope cantilever deformation to determine the three-dimensional applied force vector. [D] . Kumanchik, Lee. 2010

机译：原子力显微镜三维测量悬臂变形以确定三维施加力矢量。
6. A measurement of the hysteresis loop in force-spectroscopy curves using a tuning-fork atomic force microscope [O] . Manfred Lange, Dennis van Vörden, Rolf Möller 2012

机译：使用音叉原子力显微镜测量力谱曲线中的磁滞回线
7. A measurement of the hysteresis loop in force-spectroscopy curves using a tuning-fork atomic force microscope [O] . Lange, Manfred, van Vörden, Dennis, Möller, Rolf 2012

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Tuning-Fork Atomic Force Microscope Cantilever Encoder and Applications for Displacement and In-Plane Rotation Angle Measurement

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