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机译:DPVK-用于检测Eiffel系统中设计模式的Eclipse插件
Wang Wei; Tzerpos Vassilios;
机译:Gaia超越了二进制和多个系统。用Gaia对蚀双星的可检测性和分类的研究。
机译:使用Eclipse Rich Client Platform插件组成系统
机译:基于通用设计模式的Java源代码静态检查Eclipse插件
机译:通过检测设计模式对C ++软件系统进行逆向工程
机译:插入式纳升气动液体分配器具有喷嘴设计灵活性
机译:CaRma Eclipse插件:支持集体自适应系统设计和分析的工具
机译:设计织物图案的系统具有控制符号,传感器可以检测这些控制符号,以提供位置数据以控制在正确位置施加印刷和/或绣花图案
机译:用于检测多图案制造设备中与覆盖相关的缺陷的设计识别系统,方法和计算机程序产品
机译:用于检测多模式预制设备中与覆盖相关的缺陷的设计软件系统,方法和计算机程序产品
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