An improved model-based method to test circuit faults

机译：一种改进的基于模型的电路故障测试方法

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Cheng Xiaochun; Ouyang Dantong; Yunfei Jiang; Zhang Chengqi;
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年度 2005
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1. An improved model-based method to test circuit faults [J] . Cheng XC, Ouyang D, Jiang YF, Theoretical computer science . 2005,第1a3期

机译：一种改进的基于模型的电路故障测试方法
2. A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinational Circuits [J] . Hiroshi TAKAHASHI, Kwame Osei BOATENG, Yuzo TAKAMATSU IEICE Transactions on Information and Systems . 1999,第11期

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