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机译:扫视轨迹偏差和返回抑制:测量注意处理量
Theeuwes Jan; Van der Stigchel Stefan;
机译:扫视轨迹偏差和返回抑制:测量注意处理量。
机译:刺激显着性和扫视轨迹偏离的时程
机译:语义信息对扫视轨迹偏离的影响。
机译:在基于模板的合同开发过程中测量合规性和偏差
机译:Van der Stigchel和Theeuwes(2007)中的扫视轨迹偏离:一般抑制还是抑制返回?
机译:上眼囊的固定活动可调节扫视轨迹的牵张器诱发的偏差:计算和行为证据
机译:在处理系统中获得测量设备偏差的方法和校准传输位置数据的方法
机译:在测量系统中获得测量设备的偏差量的方法以及校准传输位置数据的方法
机译:沟槽加工装置的工具位置调整方法及工具位置偏差量测定装置
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