首页> 外文OA文献 >Performance evaluation of a quantum-well infrared photodetector in patch-antenna architecture
【2h】

Performance evaluation of a quantum-well infrared photodetector in patch-antenna architecture

机译:贴片天线架构中的量子阱红外光电探测器的性能评估

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Nel presente lavoro di tesi si dimostra il miglioramento delle perfomances di un detector basato su pozzi quantici (QWIP-Quantum Well Infrared Photo detector)(n-type GaAs/AlGaAs) nel range infrarosso (λ ≈8.6µm), processato in un array di nano-antenne a doppio metallo. I Quantum Well detectors generano fotocorrente attivando transizioni intersottobanda nel supereticolo di pozzi quantici. Le prestazioni di questi detectors sono deteriorate dal rumore associato alla corrente di dark, proporzionale all’area del detector e dipendente esponenzialemente dalla temperatura. In questo lavoro, si dimostra che le antenneudpatches agiscono da micro-cavitá che confinano il campo elettricoudincidente in uno strato di semiconduttore con dimensioni minori della lunghezza d’onda, evitano la regola di selezione intersottobanda e raccolgono fotoni da un’area maggiore delle dimensioni fisiche del dispositivoudstesso, riducendo la corrente di dark senza diminuire la fotocorrente. Il miglioramento delle prestazioni del detector é espresso in termini di area di collezione Acoll e diudfocusing factor, l’aumento di campo locale. Queste quantitá sono state estratteudda spettri di riflettivitá presi tramite spettroscopia infrarosso a Trasformata di Fourierud(FTIR) a 300K. Caratteristiche tensione-corrente sono state misurate in condizioni dark e di background (300K) da 4K a 300K, e paragonate ad un dispositivo con la stessa regione attiva ma processato con una faccetta a 45 °. Da queste curve la temperatura di BLIP (Background Infrared Limited Performance) è stata ricavata. Misure di fotocorrente in funzione del bias sono stateudprese tramite tecnica con amplificatore lock-in. Le figure di merito responsivitá e detectivity sono state estratte dalle misure di fotocorrente, dopo la calibrazione della potenzaudradiativa incidente. Queste misure mostrano un miglioramento diud10K nelle performaneces rispetto al dispositivoudmesa, dimostrando un’elevataudsensibilitá fino a temperatura ambiente.
机译:在本论文中,我们演示了在一系列红外光谱(λ≈8.6μ​​m)中处理的基于量子阱(QWIP-量子阱红外光电探测器)(n型GaAs / AlGaAs)的探测器在红外范围(λ≈8.6μ​​m)中的性能改进。双金属纳米天线。量子阱探测器通过激活量子阱的上层中的带间跃迁来产生光电流。这些探测器的性能会因与暗电流相关的噪声而恶化,该噪声与探测器面积成正比,并与温度成指数关系。在这项工作中,表明天线修补物充当微腔,将电场事故限制在尺寸小于波长的半导体层中,避免了带间选择的规则并从某个区域收集光子大于器件的物理尺寸,可以在不降低光电流的情况下减少暗电流。检测器性能的提高表示为Acoll收集面积和聚焦因子,即局部场的增加。这些量是由红外傅里叶变换光谱法(FTIR)在300K下提取的 udda反射光谱。在4K至300K的黑暗和背景条件(300K)下测量电压-电流特性,并将其与具有相同有源区但使用45°刻面处理的设备进行比较。从这些曲线获得BLIP(背景红外受限性能)温度。使用锁定放大器技术进行光电流测量,作为偏置的函数。在对入射功率/辐射进行校准之后,从光电流测量中提取出优异的响应性和探测性。这些测量结果表明,与udmesa设备相比,性能提高了ud10K,表明在室温下仍具有很高的灵敏度。

著录项

  • 作者

    Bigioli Azzurra;

  • 作者单位
  • 年度 2017
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号