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Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza

机译:功率MOSFET设备的闪烁噪声测量和可靠性

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摘要

L'attività di tesi consiste sia nella calibrazione di un banco di misura per analisi di rumore a basse frequenze nei dispositivi MOSFET di potenza, sia nella valutazione dei relativi e successivi dati sperimentali (con particolare attenzione anche ai processi di stress e recupero applicati ai dispositivi).
机译:论文活动包括功率MOSFET器件中用于低频噪声分析的测量台的校准,以及相对和后续实验数据的评估(尤其要注意应用于器件的应力和恢复过程) )。

著录项

  • 作者

    Valmori Filippo;

  • 作者单位
  • 年度 2013
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 it
  • 中图分类

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