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Glass Polarization Induced Drift in Microelectromechanical Capacitor

机译:玻璃极化引起的微机电电容器漂移

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摘要

We present a quantitative physical model for glass substrate polarization and study the glasspolarization by measuring the capacitance drift from microelectromechanicalcapacitor test structure. The model consists of mobile and immobile charge species, which are related to alkali metals and non-bridging oxygen in glass. The model explains consistently our results and the previously observed non-homogeneous charging effect in a radio-frequency switch fabricated on a glass substrate. The results indicate that the bulk properties of the glass layer itself can be a significant source of drift. The modeling allows estimation of the drift behavior of the several kinds of device structures.
机译:我们提出了一种玻璃基板极化的定量物理模型,并通过测量微机电电容器测试结构的电容漂移来研究玻璃极化。该模型由可移动和不可移动的电荷种类组成,它们与玻璃中的碱金属和非桥接氧有关。该模型始终如一地解释了我们的结果以及先前在玻璃基板上制造的射频开关中观察到的非均匀充电效应。结果表明,玻璃层本身的整体性质可能是漂移的重要来源。通过建模,可以估算几种器件结构的漂移行为。

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