首页> 外文OA文献 >Nanocrystalline materials studied by powder diffraction line profile analysis
【2h】

Nanocrystalline materials studied by powder diffraction line profile analysis

机译:粉末衍射线轮廓分析法研究纳米晶材料

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

X-ray powder diffraction is a powerful tool for characterising the microstructure of crystalline materials in terms of size and strain. It is widely applied for nanocrystalline materials, especially since other methods, in particular electron microscopy is, on the one hand tedious and time consuming, on the other hand, due to the often metastable states of nanomaterials it might change their microstructures. It is attempted to overview the applications of microstructure characterization by powder diffraction on nanocrystalline metals, alloys, ceramics and carbon base materials. Whenever opportunity is given, the data provided by the X-ray method are compared and discussed together with results of electron microscopy. Since the topic is vast we do not try to cover the entire field.
机译:X射线粉末衍射是表征晶体材料的尺寸和应变的微观结构的有力工具。它被广泛地用于纳米晶体材料,尤其是由于其他方法,特别是电子显微镜,一方面繁琐且耗时,另一方面,由于纳米材料经常处于亚稳态,可能会改变其微观结构。试图概述通过粉末衍射在纳米晶体金属,合金,陶瓷和碳基材料上进行微观结构表征的应用。只要有机会,就将X射线方法提供的数据与电子显微镜检查结果进行比较和讨论。由于主题很广泛,因此我们不会尝试涵盖整个领域。

著录项

  • 作者

    Ungár Tamás; Gubicza Jenő;

  • 作者单位
  • 年度 2007
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号