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AC-coupled GaAs microstrip detectors with a new type of integrated bias resistors

机译:具有新型集成偏置电阻器的交流耦合GaAs微带检测器

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摘要

Full size single-sided GaAs microstrip detectors with integrated coupling capacitors and bias resistors have been fabricated on 3'' substrate wafers. PECVD deposited SiO_2 and SiO_2/Si_3N_4 layers were used to provide coupling capacitaces of 32.5 pF/cm and 61.6 pF/cm, respectively. The resistors are made of sputtered CERMET using simple lift of technique. The sheet resistivity of 78 kOhm/sq. and the thermal coefficient of resistance of less than 4x10^-3 / degree C satisfy the demands of small area biasing resistors, working on a wide temperature range.
机译:具有集成耦合电容器和偏置电阻的全尺寸单面GaAs微带检测器已在3''衬底晶圆上制造。使用PECVD沉积的SiO_2和SiO_2 / Si_3N_4层分别提供32.5 pF / cm和61.6 pF / cm的耦合电容。电阻器是通过简单的技术提升由溅射的CERMET制成的。薄层电阻率为78 kOhm / sq。电阻的热系数小于4x10 ^ -3 /摄氏度,可满足在宽温度范围内工作的小面积偏置电阻器的需求。

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