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Exploring The Microarchitectural Behavior Of An Industrial Processor In The Presence Of Transient Faults

机译:瞬态故障下工业处理器的微体系结构行为研究

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摘要

Soft errors are an ubiquitous, ever-increasing problem that will compromise future computing integrity at every echelon. Many architectures provide protection from these transient events for large arrays, such as register ?les and caches, but often, little is done to protect common latches from corruption, such as those used in con?guration and in the pipeline. It is important that we identify the most vulnerable processor components at the latch level, so as to mitigate soft errors before they manifest in architectural state. This research evaluates the vulnerability of latches within an IBM PowerPC-based processor core. We simulate a VHDL model of the processor and use an RTX error injection methodology to inject bit-?ips into the latch output nets at runtime. We then perform an analysis of the system?s behavior while executing various TST applications, paying particular attention to the ?oating point unit, and propose solutions to increase processor robustness.
机译:软错误是一个普遍存在且不断增加的问题,它将损害每个梯队未来的计算完整性。许多架构都为大型阵列(例如寄存器文件和高速缓存)提供了针对这些瞬态事件的保护,但通常很少采取任何措施来保护公用闩锁免遭损坏,例如用于配置和流水线的闩锁。重要的是,我们应在闩锁级别识别最易受攻击的处理器组件,以减轻软错误在架构状态出现之前的状况。这项研究评估了基于IBM PowerPC的处理器内核中闩锁的脆弱性。我们模拟处理器的VHDL模型,并使用RTX错误注入方法在运行时将位触发器注入锁存器输出网络。然后,我们在执行各种TST应用程序时对系统的行为进行分析,尤其要注意浮点单元,并提出提高处理器健壮性的解决方案。

著录项

  • 作者

    Trammell Catherine;

  • 作者单位
  • 年度 2009
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en_US
  • 中图分类

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