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【2h】

A counter-based read circuit tolerant to process variation for low-voltage operating STT-MRAM

机译：基于计数器的读取电路可耐受低压操作STT-MRAM的过程变化

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Umeki Yohei; Yanagida Koji; Kurotsu Hiroaki; Kitahara Hiroto; Mori Haruki; Izumi Shintaro; Yoshimoto Masahiko; Kawaguchi Hiroshi; Yoshimoto Shusuke;
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年度 2016
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