机译:直拉硅中微缺陷的透射电子显微镜研究
机译:氮掺杂直拉生长硅衬底上外延层的晶体缺陷(Ⅰ)―晶体结构的研究―
机译:透射电子显微镜研究晶体硅中与金属杂质有关的缺陷
机译:高温高压处理在基础缺陷产生研究中的应用。现代微电子学的材料:直拉硅和含硅薄膜
机译:用透射电子显微镜研究了各向异性卤化银微晶中的缺陷。
机译:滑液中含硅颗粒的透射电子显微镜识别:与焦磷酸钙二水合物和磷灰石晶体的潜在混淆。
机译:通过原子力和透射电子显微镜直接观察蛋白质晶体中的缺陷结构。
机译:硼掺杂无位错Czochralski硅晶体中的点缺陷聚集体