机译:对电子包装士兵本构模型的严格审查:
机译:损伤特征及其在电子包装中几种焊料的本构模型中的应用
机译:球冲击试验中焊料合金本构关系对封装级焊点冲击力响应的影响
机译:基于扰动状态概念和多域方法的统一本构模型用于电子包装的设计和可靠性
机译:电子包装中焊料的扰动状态本构模型和测试。
机译:电子包装中的Sn-Cu无铅焊料的结构和性能
机译:基于干扰状态概念的本构模型,用于电子包装中无铅焊料的可靠性分析以及冰运动的预测。
机译:电容器测试,评估。在Nasa电子零件和包装(NEpp)计划中进行建模。 “为什么手工焊接过程中陶瓷电容器会断裂以及如何避免故障”