首页> 外文OA文献 >Low lying resonant band modes in CsBr and CsI crystals doped with In+ and Tl+
【2h】

Low lying resonant band modes in CsBr and CsI crystals doped with In+ and Tl+

机译:In +和Tl +掺杂的CsBr和CsI晶体中的低位共振带模式

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Measurements of the far infrared absorption due to In+ and Tl+ impurities in CsBr and CsI single crystals yielded low frequency resonances with narrow linewidths at 11.0 cm−1 in CsBr:In+, 12.0 cm−1 in CsI:In+, 14.1 cm−1 in CsI:Tl+, and 16.95 cm−1 in CsBr:Tl+. The frequencies of the resonant band modes in the Tl+ doped crystals shift to higher values with increasing temperature. Using a model of the perturbed crystal which involves the mass defect and the change of the central force constants between the defect and its eight nearest neighbours, the force constant change is fitted to the various resonance frequencies. The resulting linewidths are compared with the experimentally determined values.
机译:CsBr和CsI单晶中因In +和Tl +杂质引起的远红外吸收的测量产生了低频共振,其窄线宽在CsBr:In +中为11.0 cm-1,在CsI:In +中为12.0 cm-1,在CsI中为14.1 cm-1 :Tl +,在CsBr:Tl +中为16.95 cm-1。随着温度升高,Tl +掺杂晶体中的共振带模式的频率移至更高的值。使用涉及质量缺陷以及缺陷与其八个最近邻域之间的中心力常数变化的摄动晶体模型,力常数变化适合各种共振频率。将所得的线宽与实验确定的值进行比较。

著录项

  • 作者

    Prettl Wilhelm; Siep E.;

  • 作者单位
  • 年度 1971
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号