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【2h】

Factor analysis and advanced inelastic background analysis in XPS:Unraveling time dependent contamination growth on multilayers and thin films

机译:XPS中的因子分析和高级非弹性本底分析:揭示多层和薄膜上随时间变化的污染物增长

著录项

  • 作者

    Tougaard Sven Mosbæk;

  • 作者单位
  • 年度 2013
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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