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Scanning probe image wizard: a toolbox for automated scanning probe microscopy data analysis

机译：扫描探针图像向导：用于自动扫描探针显微镜数据分析的工具箱

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We describe SPIW (scanning probe image wizard), a new image processing toolbox for SPM (scanning probe microscope) images. SPIW can be used to automate many aspects of SPM data analysis, even for images with surface contamination and step edges present. Specialised routines are available for images with atomic or molecular resolution to improve image visualisation and generate statistical data on surface structure.

机译：我们介绍SPIW（扫描探针图像向导），这是一种用于SPM（扫描探针显微镜）图像的新图像处理工具箱。 SPIW可用于自动执行SPM数据分析的许多方面，甚至适用于存在表面污染和台阶边缘的图像。专门的例程可用于具有原子或分子分辨率的图像，以改善图像的可视化并生成有关表面结构的统计数据。

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作者
Stirling Julian; Woolley Richard; Moriarty Philip;
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作者单位

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年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种 en
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