首页> 外文OA文献 >Primjena impedancijske spektroskopije u analizi slobodnih površina na tiskovnim formama za plošni tisak
【2h】

Primjena impedancijske spektroskopije u analizi slobodnih površina na tiskovnim formama za plošni tisak

机译:阻抗谱在平板印刷印版自由表面分析中的应用

摘要

Tema ovog diplomskog rada je kvantitativna analiza slobodnih površina tiskovne forme za plošni tisak metodom elektrokemijske impedancijske spektroskopije. U teorijskom dijelu opisana su karakteristike i obrada slobodnih površina potrebna za dobivanje tiskovne forme. Opisani su elektrokemijski sustavi te osnovne fizikalne veličine vezane uz istosmjernu i izmjeničnu struju, posebno električna impedancija, te metoda elektrokemijske impedancijske spektroskopije. U praktičnom dijelu opisani su priprema uzoraka sredstva za razvijanje i tiskovnih formi za mjerenja impedancije i za SEM analizu površina aluminijevog oksida. Rezultati prikazuju utjecaj sredstva za razvijanje na površinu aluminijevog oksida preko SEM analize te analize spektara impedancije. Pokazalo se da sredstvo za razvijanje, kako svježe, tako i regenerirano, ima značajan utjecaj na slobodne površine tiskovnih formi.
机译:该文凭论文的主题是通过电化学阻抗谱法对平板印刷印刷版的自由表面进行定量分析。理论部分描述了获得印刷表格所需的自由表面的特征和处理。描述了与直流电和交流电有关的电化学系统和基本物理量,尤其是电阻抗,以及电化学阻抗谱的方法。该实际部分描述了显影装置和印刷形式样品的制备,用于阻抗测量和氧化铝表面的SEM分析。结果通过SEM分析和阻抗谱分析显示了显影剂对氧化铝表面的影响。已显示新鲜和再生的显影剂对印刷形式的自由表面具有显着影响。

著录项

  • 作者

    Tomašegović Tamara;

  • 作者单位
  • 年度 2010
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 hr
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号