首页> 外文OA文献 >Boron Oxide Encapsulated Vertical Bridgman CdZnTe Crystals For X-Ray Detector Applications
【2h】

Boron Oxide Encapsulated Vertical Bridgman CdZnTe Crystals For X-Ray Detector Applications

机译:X射线检测器应用的氧化硼封装垂直布里奇曼CdZnTe晶体

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

CdZnTe crystals are employed for the production of room temperature X-ray detectors and as substrates for infrared detectors. However, the exploitation of CdZnTe crystals for such applications is still limited by the low single-crystalline device-grade yield of the growth process. The authors had previously shown that is possible to grow CdZnTe crystals in a vertical Bridgman configuration by means of boron oxide encapsulation. Actually, the crystals are fully encapsulated by boron oxide, thus preventing any contact between the growing crystal and the ampoule wall.
机译:CdZnTe晶体用于生产室温X射线探测器,并用作红外探测器的基板。但是,CdZnTe晶体在此类应用中的开发仍然受到生长过程中单晶器件级产量低的限制。作者先前已经表明,可以通过氧化硼封装以垂直的Bridgman构造生长CdZnTe晶体。实际上,晶体被氧化硼完全包封,从而防止了生长的晶体与安瓿壁之间的任何接触。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号