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机译：富中子均匀钼同位素的终生测量
Ralet, D.; Pietri, S.; Rodríguez, T.; Alaqeel, M.; Alexander, T.; Alkhomashi, N.; Ameil, F.; Arici, T.; Ataç, A.; Avigo, R.; Bäck, T.; Bazzacco, D.; Birkenbach, B.; Boutachkov, P.; Bruyneel, B.; Bruce, A.M.; Camera, F.; Cederwall, B.; Ceruti, S.; Clément, E.; Cortés, M.L.; Curien, D.; De Angelis, G.; Désesquelles, P.; Dewald, M.; Didierjean, F.; Domingo-Pardo, C.; Doncel, M.; Duchêne, G.; Eberth, J.; Gadea, A.; Gerl, J.; Ghazi Moradi, F.; Geissel, H.; Goigoux, T.; Goel, N.; Golubev, P.; González, V.; Górska, M.; Gottardo, A.; Gregor, E.; Guastalla, G.; Givechev, A.; Habermann, T.; Hackstein, M.; Harkness-Brennan, L.; Henning, G.; Hess, H.; Hüyük, T.; Jolie, J.; Judson, D.S.; Jungclaus, A.; Knoebel, R.; Kojouharov, I.; Korichi, A.; Korten, W.; Kurz, N.; Labiche, M.; Lalović, N.; Louchart-Henning, C.; Mengoni, D.; Merchán, E.; Million, B.; Morales, A.I.; Napoli, D.; Naqvi, F.; Nyberg, J.; Pietralla, N.; Podolyák, Zs.; Pullia, A.; Prochazka, A.; Quintana, B.; Rainovski, G.; Reese, M.; Recchia, F.; Reiter, P.; Rudolph, D.; Salsac, M.D.; Sanchis, E.; Sarmiento, L.G.; Schaffner, H.; Scheidenberger, C.; Sengele, L.; Nara Singh, B.S.; Singh, P.P.; Stahl, C.; Stezowski, O.; Thoele, P.; Valiente Dobon, J.J.; Weick, H.; Wendt, A.; Wieland, O.; Winfield, J.S.; Wollersheim, H.J.; Zielinska, M.;
机译：中子均匀甚至钼同位素的寿命测量
机译：富含中子均匀钼同位素的寿命测量
机译：低洼兴奋状态的寿命测量中子富含B和C同位素
机译：偶数，富含中子的硅和硫同位素的四极收率测量值接近N = 28。
机译：富含中子的碳同位素中普遍存在Z = 6幻数的证据
机译：时间测量装置，时间测量方法，发光寿命测量装置和发光寿命测量方法
机译：时间测量装置时间测量方法发光寿命测量装置和发光寿命测量方法
机译：时间测量设备，时间测量方法，光寿命时间测量设备和光寿命时间测量方法
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