首页> 外文OA文献 >14.走査トンネル顕微鏡の試作と高分解能反射電子顕微鏡法によるSi表面の研究(東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻,修士論文題目・アブストラクト(1988年度))
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14.走査トンネル顕微鏡の試作と高分解能反射電子顕微鏡法によるSi表面の研究(東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻,修士論文題目・アブストラクト(1988年度))

机译:14.扫描隧道显微镜的试制和高分辨率背散射电子显微镜对硅表面的研究(东京工业大学,理工学研究科,物理系,硕士论文/摘要(1988年))

摘要

この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。
机译:该论文由美国国家信息学研究所的电子图书馆业务进行了数字化处理。

著录项

  • 作者

    室岡 賢一;

  • 作者单位
  • 年度 1989
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ja
  • 中图分类

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