机译:具有沉积$ hbox {SiN} _ {x} / hbox {SiO} _ {2} $堆叠门结构的4H-SiC MIS电容器和MISFET
机译:等离子体辅助原子层沉积沉积的AION中N键结构对4H-SiC MOS电容器电学性能的影响
机译:SiO2 / Si3N4和SiNx / Si3N4双层钝化的AlGaN / GaN结构的电容电压和俄歇化学性质研究
机译:利用沉积的SiN / SiO_2堆叠栅结构增强4H-SiC MISFET的沟道迁移率
机译:离子液体和电化学双层电容器:电解质结构和电容器性能的研究。
机译:5 MeV质子辐射对氮化SiO2 / 4H-SiC MOS电容的影响及相关机制
机译:利用沉积的siN / siO2堆叠栅极结构增强4H-siC mIsFET中的沟道迁移率