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【2h】

<大学の研究・動向> 強誘電体メモリ技術のロジック応用と信頼性

机译:<大学研究与趋势>铁电存储技术的逻辑应用和可靠性

著录项

  • 作者

    野澤 博; 前田 佳均;

  • 作者单位
  • 年度 2006
  • 总页数
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  • 正文语种
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