首页> 外文OA文献 >On the Characteristic Properties of the Three-Stage Electron Microscope SM-C3 as an Electron Diffraction Camera

【2h】

On the Characteristic Properties of the Three-Stage Electron Microscope SM-C3 as an Electron Diffraction Camera

机译：三级电子显微镜SM-C3作为电子衍射相机的特性

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Suito Eiji; Uyeda Natsu;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 1954
总页数
原文格式 PDF
正文语种 en
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Imaging with a Commercial Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Camera in a Scanning Electron Microscope: A Review [J] . Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin Journal of Imaging . 2018,第7期

机译：商用电子背散射衍射（EBSD）相机在扫描电子显微镜中的成像：综述
2. Strain mapping at the nanoscale using precession electron diffraction in transmission electron microscope with off axis camera [J] . Vigouroux M.P., Delaye V., Bernier N., Applied Physics Letters . 2014,第19期

机译：使用离轴照相机的透射电子显微镜中的进动电子衍射在纳米级绘制应变图
3. Strain mapping at the nanoscale using precession electron diffraction in transmission electron microscope with off axis camera [J] . M. P. Vigouroux, V. Delaye, N. Bernier, Applied Physics Letters . 2014,第19期

机译：使用离轴照相机的透射电子显微镜中的进动电子衍射在纳米级绘制应变图
4. ADVANCES IN ELECTRON CHANNELLING CONTRAST IMAGING AND ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION FOR IMAGING AND ANALYSIS OF STRUCTURAL DEFECTS IN THE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE [C] . Carol Trager-Cowan, A. Alasamari, W. Avis, European workshop on modern developments and applications in microbean analysis . 2019

机译：电子扫描衬里成像和电子背散射衍射成像及扫描电子显微镜结构缺陷分析的进展
5. A qualitative examination of strain using electron backscattering patterns employing a 35MM camera body in a scanning electron microscope. [D] . Gibson, Alan W. 1995

机译：使用电子反向散射图案对应变进行定性检查，该电子反向散射图案在扫描电子显微镜中采用35MM相机机身。
6. Fundamental and experimental aspects of diffraction for characterizing dislocations by electron channeling contrast imaging in scanning electron microscope [O] . H. Kriaa, A. Guitton, N. Maloufi -1

机译：衍射的基本和实验方面通过扫描电子显微镜中的电子通道对比成像表征位错
7. Strain mapping at the nanoscale using precession electron diffraction in transmission electron microscope with off axis camera [O] . Vigouroux, Matthieu,, Delaye, V., Bernier, N.,, 2014

机译：使用离轴照相机的透射电子显微镜中的进动电子衍射在纳米级绘制应变图

On the Characteristic Properties of the Three-Stage Electron Microscope SM-C3 as an Electron Diffraction Camera

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅