首页> 外文OA文献 >Designing of testing board for manufacturing defects of link board
【2h】

Designing of testing board for manufacturing defects of link board

机译:链接板制造缺陷的测试板设计

摘要

Työssä suunniteltiin ja toteutettiin linkkikorttien tuotannollinen testeri. Linkkikortti on osa CERN:iin rakennettavan hiukkaskiihdyttimen Large Hadron Colliderin koeasema Compact Muon Solenoidin luentajärjestelmää. Linkkikortin tehtävänä on muuttaa rinnakkaismuotoinen LVDS-signaali sarjamuotoiseksi optiseksi signaaliksi. Testattaessa testeri ja linkkikortti sijoitetaan kehikkoon, joten testerin liittimien pitää olla linkkikortin liittimien kanssa identtisiä. Testerin lähdöt ovat linkkikortin tuloja ja toisinpäin. Tällöin testattaessa voidaan ohjelmoitavien FPGA-piirien avulla lähettää signaalia kortilta toiselle. Vastaanottavan kortin FPGA-piirin avulla voidaan tarkistaa, onko data tullut perille muuttumattomana. Testin ohjaus tapahtuu tietokoneella, jolla käyttäjä antaa käskyn testin aloittamisesta ja jonne lopulta myös raportoidaan testin tulokset. Testien tulokset näytetään myös testerin ledeillä. Työssä ei pystytä linkkikorttien puuttumisen takia testaamaan testeriä loppukäytössään. Kuitenkin testerin toimivuus pystyttiin suurilta osin testaamaan, jolloin saatiin odotettuja tuloksia.
机译:在工作中设计并实现了用于链接卡的生产测试仪。链接卡是大型强子对撞机测试站Compact Muon电磁线圈读取系统的一部分,该系统用于在CERN建造的粒子加速器。链接卡的功能是将并行LVDS信号转换为串行光信号。测试时,将测试仪和链接卡放在机架中,因此测试仪的连接器必须与链接卡上的连接器相同。测试仪的输出是链接卡的输入,反之亦然。在这种情况下,进行测试时,可以使用可编程FPGA电路将信号从一张卡发送到另一张卡。接收卡的FPGA电路可用于检查数据是否到达不变。该测试由计算机控制,在该计算机上,用户指示启动测试,并最终报告测试结果。测试结果也显示在测试仪的LED上。由于缺少链接卡,因此无法测试测试仪的最终用途。但是,测试仪的功能已经过大量测试,可以得到预期的结果。

著录项

  • 作者

    Korpela Arja;

  • 作者单位
  • 年度 2005
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 fi
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-31 15:05:52

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号