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Application au Contrôle de la Réflectivité Large Bande, Large Incidence.
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Modélisation et Réalisation de Réseaux Sub-Longueur d'Onde :
Application au Contrôle de la Réflectivité Large Bande, Large Incidence.

机译:子波长网络的建模与实现:
在宽带反射率,大入射角控制中的应用。

摘要

Antireflective surface coatings allow increasing the efficiency of photovoltaic cells, increasing the sensitivity of photodetectors or improving the light extraction from LEDs. Traditionally, antireflective coatings are obtained using thin-film stacks. We have studied an alternative technique based on the micro-structuration of the air/substrate interface. More precisely, we have focused our efforts on the modelization and the fabrication of bi-periodic micro-structured surfaces on silicon and germanium. Such microstructured surface on Si and Ge exhibit efficient antireflection properties in the infrared bands II and III respectively. These structures need a rigorous description of light propagation phenomena. The influence of opto-geometrical parameters is studied using the photonic crystal theory and photonic band diagrams. To fabricate these structures, low cost processing techniques are proposed using wet anisotropic etching of crystalline semiconductors through a mask obtained by photolithography. On silicon, we have experimentally obtained a reflectance lower than 4% on the entire IR II band. A very good agreement between calculated and experimental results enables the validations of previously obtained numerical results.
机译:防反射表面涂层可提高光伏电池的效率,提高光电探测器的灵敏度或改善从LED提取的光。传统上,抗反射涂层是使用薄膜叠层获得的。我们已经研究了基于空气/基材界面的微观结构的替代技术。更准确地说,我们将精力集中在硅和锗上的双周期微结构化表面的建模和制造上。 Si和Ge上的这种微结构化表面分别在红外带II和III中表现出有效的抗反射性能。这些结构需要对光传播现象进行严格的描述。使用光子晶体理论和光子能带图研究了光几何参数的影响。为了制造这些结构,提出了通过通过光刻法获得的掩模使用湿法各向异性蚀刻晶体半导体的低成本处理技术。在硅上,我们通过实验获得了在整个IR II波段上低于4%的反射率。计算结果和实验结果之间的很好的一致性使得能够验证先前获得的数值结果。

著录项

  • 作者

    Bouffaron Renaud;

  • 作者单位
  • 年度 2008
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 fr
  • 中图分类

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