Desarrollo de una herramienta para discernir errores simples en memorias SRAM sometidas a radiación

摘要

Para testear la vulnerabilidad de las memorias en entornos radiactivos se utilizan fuentes de radiación que en un breve lapso de tiempo, permiten obtener grandes cantidades de errores. Durante estos tests, se mezclan los errores simples (una partícula afecta a una celda de memoria) con los múltiples (una partícula afecta a múltiples celdas de memoria), y no es en absoluto trivial discernir ambos tipos de errores. Sin embargo, para mejorar la precisión de las métricas que evalúan la sensibilidad es imprescindible saber qué errores son simples y cuáles son múltiples.udEn este trabajo, nos familiarizaremos con las distintas técnicas para distinguir los tipos de errores mencionados anteriormente. Después crearemos un software con las técnicas necesarias para la prediccion de dichos fallos usando el lenguaje C. Y finalmente desarrollamos una interfaz gráfica que será sencilla e intutitiva para facilitar la obtención de los datos y una mejora en la visualización.