首页> 外文OA文献 >Load resistor as a worst-case parameter to investigate single-event transients in analog electronic devices
【2h】

Load resistor as a worst-case parameter to investigate single-event transients in analog electronic devices

机译:负载电阻作为最坏情况参数,用于研究模拟电子设备中的单事件瞬变

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

One of the main phenomena that commit the reliability of analog electronic systems working in the outer space is the presence of energetic ions that produce spurious transients after crossing the device. These pulses are transmitted to the network loading the device and can eventually lead to dangerous situations as it has been observed in some spatial missions. This paper shows how the value of the resistor loading the device can affect the shape of the transients.
机译:保证模拟电子系统在外层空间工作的可靠性的主要现象之一是高能离子的存在,该高能离子穿过设备后会产生伪瞬变。这些脉冲被传输到设备的网络,最终可能导致危险情况,如在某些空间任务中所观察到的那样。本文展示了负载在器件上的电阻值如何影响瞬态的形状。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号