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Infrarot-spektrometrische Spurengasbestimmung in für elektrische Schaltanlagen verwendetem Schwefelhexafluorid

机译:电气开关设备中六氟化硫中红外光谱痕量气体的测定。

摘要

Seit mehr als 20 Jahren wird Schwefelhexafluorid (SF6) in zunehmenden Maße als Isolier- und Löschmedium in Hochspannungsanlagen eingesetzt. Die Ausnutzung der gegenüber Luft um einen Faktor von mehr als zwei höheren Durchschlagsfeldstärke erlaubt den volumenreduzierten Aufbau von Hochspannungsanlagen, womit der Platzbedarf gegenüber Freiluftanlagen erheblich verringert werden kann. Die hervorragenden Lichtbogenlöscheigenschaften gestatten insbesondere den Aufbau von Leistungsschaltern mit hohen Kurzschlußströmen.Trotz der hohen chemischen Inertheit des SF6-Gases werden solche Moleküle durch verschiedene elektrische Entladungen wie Teilentladungen, Funken oder Lichtbögen zersetzt. Die bei elektrischen Entladungen infolge verschiedener Mechanismen ionisierten oder dissozierten Moleküle rekombinieren weitgehend wieder zu SF6. Im übrigen ist die Fragmentierung von SF6 eine wichtige Vorraussetzung zum Löschen von Funken- und Bogenentladungen. Ein von den jeweiligen elektrischen Bedingungen abhängiger Anteil der Fragmente oder durch Elektronenanlagerung gebildete Ionen sind an zum Teil mehrstufigen Reaktionen beteiligt, wobei die Zwischen- und Endprodukte im nachfolgenden als SF6-Nebenprodukte bezeichnet werden. Dabei ist zwischen Primärreaktionen, die innerhalb von Sekunden ablaufen, und länger währenden Sekundärreaktionen zu unterscheiden. Die dabei entstehenden Nebenprodukte oder die durch Reaktion mit anderen Stoffen (z.B. Luft, Wasser, Elektrodenmaterialen) gebildeten Sekundärprodukte interessieren hinsichtlich ihrer korrosiven, toxischen und elektrischen Eigenschaften. Die wichtigsten, in höheren Konzentrationen vorkommenden Nebenprodukte in SF6 sind folgende Gase: SOF2, SOF4, SO2F2, SF4, S2F10, HF und SO2. Da bestimmte Verbindungen zum Nachweis der sie verursachenden elektrischen Entladungen herangezogen werden können, ist eine qualitative und weitergehende quantitative Bestimmung der Nebenprodukte sinnvoll. Zu den Auswirkungen von elektrischen Entladungen auf SF6 und verschiedene Elektrodenmaterialien wurden am Institut für Spektrochemie und angewandte Spektroskopie (ISAS) zahlreiche exemplarische Untersuchungen durchgeführt.Für die Gasanalytik ist die in dieser Arbeit eingesetzte Fourier-Transform-Infrarot (FTIR) -Spektroskopie eine besonders geeignete analytische Methode, da hiermit gasförmige Proben schnell und zerstörungsfrei analysiert werden können. Vorteilhaft ist die simultane Bestimmung einer Vielzahl von verschiedenen Komponenten. Da SF6 selbst ein infrarot-aktives Molekül mit intensiven Schwingungsbanden ist, ist die Auswahl geeigneter spektraler Bereiche, die zur quantitativen Analyse von Nebenprodukten herangezogen werden können, von besonderer Bedeutung. Spezielle Anstrengungen wurden hinsichtlich einer hohen photometrischen Genauigkeit bei der Spektrenmessung und Berechnung unternommen. Unter diesen Bedingungen werden die Grenzen der infrarotspektrometrischen Gasanalytik aufgezeigt.Zur Optimierung der quantitativen IR-spektrometrischen Mehrkomponentenanalytik wurden unterschiedliche Strategien zur multivariaten Kalibrierung unter Berücksichtigung bestimmter spektraler Intervalle bzw. mit weitergehender Variablenauswahl herangezogen. Die Experimente zur Spurengasanalytik wurden mit verschiedenen konventionellen Gasküvetten unterschiedlicher optischer Weglänge vorgenommen, wobei auch die Lebensdauern von reaktiven Nebenprodukten in solchen Küvetten untersucht worden sind. Weitere Entwicklungen betreffen die Miniaturisierung von Analysengeräten, wobei in-situ Messungen direkt vor Ort oder off-line Untersuchungen mit minimaler Gasprobenentnahme unter Verwendung von neuartiger IR-Faseroptik ermöglicht werden. Eine weitere, auf ihr Potential hin untersuchte Messtechnik ist die Kryomesstechnik, die erhebliche Vorteile bei der Bestimmung von reaktiven oder instabilen Komponenten hat. Die eingesetzte Kryomesstechnik wurde bei Temperaturen des flüssigen Stickstoffs betrieben, wobei analog zur Matrixisolationsspektroskopie das SF6 als Matrixgas genutzt wird.Um die Betriebszeit von Hochspannungsgeräten und -anlagen über die ursprünglich projektierte Lebensdauer hinaus zu verlängern, kann die routinemäßig betriebene Gasanalytik mittels FTIR-Spektroskopie einen wesentlichen Beitrag leisten. Die Qualitätssicherung des eingesetzten SF6-Isoliergases sowie eine vorzeitige Erkennung von Fehlern in gasisolierten Schaltanlagen sind hiermit möglich. Die in dieser Arbeit gewonnenen Erkenntnisse liefern weiterhin die Grundlage für die Entwicklung von einfachen Analysensystemen, die z.B. auf schmalbandigen Interferenzfiltern oder dem Einsatz von IR-Diodenlasern (z.B. Quantenkaskadenlasern) basieren. Diese können als gasanalytische IR-Sensoren für bestimmte Nebenprodukte, z.B. für eine Leitkomponente wie SOF4, eingesetzt werden.
机译:20多年来,六氟化硫(SF6)越来越多地用作高压系统中的绝缘和灭火介质。与空气相比,击穿场强的利用率提高了两倍以上,从而可以减少高压系统的体积,与露天系统相比,可以大大减少空间需求。优异的灭弧性能尤其允许短路电流较高的断路器的构造,尽管SF6气体具有很高的化学惰性,但这些分子仍会通过各种放电(例如局部放电,火花或电弧)分解。由于各种机理,在放电中离子化或解离的分子在很大程度上重新结合为SF6。此外,SF6的碎裂是熄灭火花和电弧放电的重要先决条件。取决于各自电学条件的片段的一部分,或由电子附着形成的离子参与反应,其中一些是多阶段的,中间产物和终产物在下文中称为SF6副产物。必须在几秒钟之内发生的一级反应和持续时间较长的二级反应之间进行区分。就它们的腐蚀性,毒性和电学性质而言,感兴趣的是所产生的副产物或通过与其他物质(例如空气,水,电极材料)反应形成的副产物。 SF6中最重要的副产物(浓度较高)是以下气体:SOF2,SOF4,SO2F2,SF4,S2F10,HF和SO2。由于某些化合物可用于检测引起它们的放电,因此对副产物进行定性和更广泛的定量测定是有意义的。光谱化学和应用光谱研究所(ISAS)对放电对SF6和各种电极材料的影响进行了许多示例性研究,傅里叶变换红外(FTIR)光谱是一种特别适合用于气体分析的分析方法方法,因为它可以快速,无损地分析气态样品。同时确定大量不同的成分是有利的。由于SF6本身是具有强烈振动带的红外活性分子,因此选择合适的光谱范围以用于副产物的定量分析尤为重要。为了在光谱的测量和计算中达到高的光度测量精度,已经做出了特殊的努力。在这些条件下,显示了红外光谱气体分析的极限,为优化定量红外光谱多组分分析,考虑了一定的光谱间隔或进一步选择变量,考虑了多元校准的不同策略。用各种具有不同光程长度的常规气体比色杯进行痕量气体分析的实验,从而也检查了这种比色皿中反应副产物的寿命。进一步的发展涉及分析设备的小型化,从而可以使用新的IR光纤直接在现场或离线检查现场进行最小的气体采样。已检验其潜力的另一种测量技术是低温技术,该技术在确定反应性或不稳定组分方面具有相当大的优势。所使用的低温技术是在液氮温度下运行的,因此类似于基质分离光谱法,SF6用作基质气体做出贡献。这样可以保证所用SF6绝缘气体的质量,并能及早发现气体绝缘开关设备中的错误。在这项工作中获得的知识继续为开发简单的分析系统(例如分析仪)提供基础。基于窄带干涉滤光片或使用IR二极管激光器(例如量子级联激光器)。这些可以用作某些副产物的气体分析红外传感器,例如用于诸如SOF4之类的关键组件。

著录项

  • 作者

    Kurte Roland;

  • 作者单位
  • 年度 2002
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类

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