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A Robust Algorithm for Microscopic Simulation of Avalanche Breakdown in Semiconductor Devices

机译：半导体器件雪崩击穿微观仿真的鲁棒算法

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Jabs Dominic; Jungemann Christoph; Bach Karl Heinz;
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年度 2015
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1. 具雪崩效应一维半导体稳态多结器件的分析(英文) [J] . 边永新, 王元明东南大学学报：英文版 . 1998,第001期
2. A Robust Algorithm for Microscopic Simulation of Avalanche Breakdown in Semiconductor Devices [J] . Jabs Dominic, Jungemann Christoph, Bach Karl Heinz Electron Devices, IEEE Transactions on . 2015,第8期

机译：半导体器件雪崩击穿微观仿真的鲁棒算法
3. BREAKDOWN PHENOMENA IN SEMICONDUCTORS AND SEMICONDUCTOR DEVICES: Static Avalanche Breakdown [J] . J. Kostamovaara, M. E. Levinshtein, S. Vainshtein International Journal of High Speed Electronics and Systems: Devices, Integrated Circuits and Systems, Optical and Quantum Electronics . 2004,第4期

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4. BREAKDOWN PHENOMENA IN SEMICONDUCTORS AND SEMICONDUCTOR DEVICES: Avalanche Injection [J] . J. Kostamovaara, M. E. Levinshtein, S. Vainshtein International Journal of High Speed Electronics and Systems: Devices, Integrated Circuits and Systems, Optical and Quantum Electronics . 2004,第4期

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5. Leakage Current Voltage Dependence and Performance of Power Semiconductor Devices in the Breakdown (Avalanche) Region [C] . Vasile V.N. Obreja IEEE Power Electronics Specialists Conference . 2008

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