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【2h】

A quantitative analysis of surface deformation by stick/slip atomic force microscopy

机译：粘滑原子力显微镜对表面变形的定量分析

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作者
Kerssemakers J.W J; de Hosson J.T.M.;
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作者单位

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年度 1997
总页数
原文格式 PDF
正文语种 eng
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1. Demonstration of atomic scale stick-slip events stimulated by the force versus distance mode using atomic force microscopy [J] . Watson GS., Dinte BP., Blach JA., Journal of Physics, D. Applied Physics: A Europhysics Journal . 2002,第16期

机译：使用原子力显微镜演示了力对距离模式所激发的原子尺度粘滑事件
2. Line Scan Reconstruction: A Viable Approach for Tracking Atomic Stick-Slip Events and True Tip Position in Atomic Force Microscopy [J] . Yao Quanzhou, Li Qunyang Tribology letters . 2016,第2期

机译：线扫描重建：一种在原子力显微镜中跟踪原子粘滑事件和真实尖端位置的可行方法
3. Dynamics of Atomic Stick-Slip Friction Examined with Atomic Force Microscopy and Atomistic Simulations at Overlapping Speeds [J] . Liu Xin-Z, Ye Zhijiang, Dong Yalin, Physical review letters . 2015,第14期

机译：原子力显微镜检查的原子粘滑摩擦动力学和重叠速度下的原子模拟
4. High aspect ratio topography reconstruction in sub-resonant atomic force microscopy exploiting stick-slip dynamics* [C] . J. J. Benjamin Biemond, Rodolf W. Herfst, Sri R. S. Rajadurai International Conference on Manipulation, Automation and Robotics at Small Scales . 2020

机译：副谐振原子力显微镜清探粘滑动力学中的高纵横比地形重建*
5. Quantitative prediction of tip-sample repulsive forces and sample deformation in tapping-mode frequency and force modulation atomic force microscopy. [D] . Crone, Joshua C. 2008

机译：敲击模式频率和力调制原子力显微镜中尖端样本排斥力和样本变形的定量预测。
6. DNA Deformations near Charged Surfaces: Electron and Atomic Force Microscopy Views [O] . F.G.A. Faas, B. Rieger, L.J. van Vliet, 2009

机译：带电表面附近的DNA变形：电子和原子力显微镜视图
7. Erratum: “A quantitative analysis of surface deformation by stick/slip atomic force microscopy” J. Appl. Phys. 82, 3763 (1997) [O] . J. Kerssemakers, J. Th. M. De Hosson 1998

机译：用粘/滑原子力显微镜定量分析表面变形（vol 82，pg 3763,1997）
8. Imaging and Quantitative Data Acquisition of Biological Cell Walls with Atomic Force Microscopy and Scanning Acoustic Microscopy. [R] . Tittmann, B. R., Xi, X. 2014

机译：利用原子力显微镜和扫描声学显微镜对生物细胞壁进行成像和定量数据采集。

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