机译:Pb III的5d10 6s {8s,7p,5f,5g}电子结构引起的几条谱线的实验跃迁几率
机译:Pb III的5d〜(10)6s {8s,7p,5f,5g}电子结构引起的几条谱线的实验跃迁几率
机译:中性锑5p〜26s构型引起的线的实验跃迁几率
机译:AuII 6p构型产生的谱线的实验和理论跃迁几率
机译:AgⅡ谱线从4d〜96s,4d〜95d和CuⅡ线从3d〜94d的跃迁几率
机译:Au iii中5d86s和5d86p构型之间的计算跃迁强度
机译:Pb III的5d10 6s {8s,7p,5f,5g}电子结构引起的几条谱线的实验跃迁概率
机译:氟VIII(和IX)与过渡金属线之间的X射线光谱线重合。