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Quantitative Thermal Microscopy Measurement with Thermal Probe Driven by dc+ac Current

机译：dc + ac电流驱动的热探针进行定量热显微镜测量

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Jerzy Bodzenta; Justyna Juszczyk; Anna Kaźmierczak-Bałata; Piotr Firek; Austin Fleming; Mihai Chirtoc;
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年度 2016
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1. Quantitative Thermal Microscopy Measurement with Thermal Probe Driven by dc plus ac Current [J] . Bodzenta Jerzy, Juszczyk Justyna, Kazmierczak-Balata Anna, International Journal of Thermophysics . 2016,第7期

机译：用直流和交流电流驱动的热探针进行定量热显微镜测量
2. Atomic Force Microscopy, Scanning Kelvin Probe Force Microscopy and magnetic measurements on thermally oxidized AISI 304 and AISI 316 stainless steels [J] . B. Maachi, C. Pirri, A. Mehdaoui, Corrosion science . 2011,第3期

机译：在热氧化的AISI 304和AISI 316不锈钢上进行原子力显微镜，扫描开尔文探针力显微镜和磁测量
3. Quantitative Heat Dissipation Characteristics in Current-Carrying GaN Nanowires Probed by Combining Scanning Thermal Microscopy and Spatially Resolved Raman Spectroscopy [J] . Soudi Afsoon, Dawson Robert D., Gu Yi ACS nano . 2011,第1期

机译：结合扫描热显微镜和空间分辨拉曼光谱技术探测载流GaN纳米线的定量散热特性
4. Thermal, Electrical, and Thermoelectric Measurements by Scanning Probe Microscopy [C] . Andrew C. Miner, Michael Chapp, Deyu Li, 2002 ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition , Nov 17-22, 2002, New Orleans, Louisiana . 2002

机译：通过扫描探针显微镜进行热，电和热电测量
5. Analysis of non-contact and contact probe-to-sample thermal exchange for quantitative measurements of thin film and nanostructure thermal conductivity by the scanning hot probe method. [D] . Wilson, Adam A. 2017

机译：通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析，以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
6. Photothermally excited force modulation microscopy for broadband nanomechanical property measurements [O] . Ryan Wagner, Jason P. Killgore -1

机译：用于宽带纳米力学性能测量的光热激发力调制显微镜
7. Thermally driven visco-elastic measurement technique via spectral variations in scanning probe microscopy cantilevers [O] . Jones Ryan Edward 1974- 2004

机译：通过扫描探针显微镜悬臂的光谱变化进行热驱动粘弹性测量技术

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