首页> 外文OA文献 >Memory properties and charge effect study in Si nanocrystals by scanning capacitance microscopy and spectroscopy

【2h】

Memory properties and charge effect study in Si nanocrystals by scanning capacitance microscopy and spectroscopy

机译：硅纳米晶体的存储特性和电荷效应的扫描电容显微镜和光谱研究

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

作者
Zhen Lin; Georges Bremond; Franck Bassani;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2011
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Charge trapping properties in TiO_2/HfSiO/SiO_2 gate stacks probed by scanning capacitance microscopy [J] . Y. Naitou, H. Arimura, N. Kitano, Applied Physics Letters . 2008,第1期

机译：扫描电容显微镜探测TiO_2 / HfSiO / SiO_2栅堆叠中的电荷俘获特性
2. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Study of a Steep Facet Surface on Ge Nanocrystal Grown on Si(111) [J] . Hirofumi Suto, Yuya Murata, Takashi Matsumoto, Applied physics express . 2009,第3期

机译：Si（111）上生长的Ge纳米晶上陡峭小平面的扫描隧道显微镜和光谱学研究
3. NANOSCALE CAPACITANCE AND CAPACITANCE-VOLTAGE CURVES FOR ADVANCED CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL PROPERTIES OF SILICON AND GaN STRUCTURES USING SCANNING MICROWAVE IMPEDANCE MICROSCOPY (sMIM) [J] . Oskar Amster, Stuart Friedman, Yongliang Yang, Electronic Device Failure Analysis: A Resource for Technical Information and Industry Developments . 2017,第4期

机译：纳米级电容和电容电压曲线，用于使用扫描微波阻抗显微镜（SMIM）的硅和GaN结构的电气性能的高级表征
4. Direct Measurements of Charge in Floating Gate Transistor Channels of Flash Memories Using Scanning Capacitance Microscopy [C] . Christophe De Nardi, Romain Desplats, Philippe Perdu, International Symposium for Testing and Failure Analysis . 2006

机译：使用扫描电容显微镜的闪存浮动栅极晶体管通道的电荷直接测量
5. Low temperature scanning tunneling microscopy and spectroscopy: A study on charge density waves and vortex dynamics. [D] . Wang, Hui. 2009

机译：低温扫描隧道显微镜和光谱：电荷密度波和涡旋动力学的研究。
6. Memory properties and charge effect study in Si nanocrystals by scanning capacitance microscopy and spectroscopy [O] . Zhen Lin, Georges Bremond, Franck Bassani 2011

机译：硅纳米晶体的存储特性和电荷效应的扫描电容显微镜和光谱研究
7. Memory properties and charge effect study in Si nanocrystals by scanning capacitance microscopy and spectroscopy [O] . Lin, Zhen, Bremond, Georges, Bassani, Franck 2011

机译：硅纳米晶体的存储特性和电荷效应的扫描电容显微镜和光谱研究

Memory properties and charge effect study in Si nanocrystals by scanning capacitance microscopy and spectroscopy

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅