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【2h】

Optimized measurements of planarity of the nanostructure surfaces

机译:优化测量纳米结构表面的平面度

摘要

Supervisor: T.J. Kippenberg
机译:主管:T.J.基彭贝格

著录项

  • 作者

    Holovchenko A.I.;

  • 作者单位
  • 年度 2012
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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